| 是否进口：否 | 产地：英国 | 加工定制：否 |
| 品牌： Ossila | 型号： Ossila |
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四点探针系统
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| 报 价： | 市场价: |
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这款四点探针系统是一款易于使用的工具，用于快速测量材料的薄层电阻，电阻率和电导率。 通过使用我们自己的源测量单元，我们能够创建一个低成本的系统，使测量范围更广泛。 探头采用弹簧加载接触，而不是尖锐的针头，防止损坏精密样品，如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。
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四点探针系统产品概述：
特点：
? 广泛的测量范围 - 四点探头能够提供10 nA-100 mA的电流，并且可以测量低至100μV-10 V的电压。广泛的薄层电阻测量范围，从10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多种材料。
? 非破坏性测试 - 设计时考虑到了精密样品的测量，四点探头采用镀金弹簧接触圆头， 60克的恒定接触力，防止探针刺破脆弱的薄膜，同时仍能提供良好的电接触。
? 节省空间的设计 - 通过垂直堆叠组件，我们能够将四点探头的占地面积降至zui低（总台面面积12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏货架空间的实验室中使用。
? 易于使用 - 只需插入系统，安装软件，即可开始使用！ 直观的界面和清洁的设计，简化了薄膜电阻的测量。
? 快速材料表征 - PC软件可执行薄膜电阻，电阻率和电导率所有必要的测量和计算，从而使材料表征变得毫不费力。
? 要忘记保存您的实验数据 - 用于测量的设置会与数据一起保存，从而轻松查看实验的详细信息。 此外，这些设置文件可以通过相同的软件加载，加快重复测量和材料表征。 用更少的时间重复测量，您的研究成果可以显着增加。
技术参数：
电压范围 | 100μV至10 V |
| 当前范围10 nA到100 mA薄层电阻范围10mΩ/□至10MΩ/□测量精度<±4%测量精度±0.5% |
探针间距 | 1.27毫米 |
矩形样本大小范围 | 长边zui小值：4毫米 短边zui大值：60毫米 |
圆形样品尺寸范围（直径） | 4毫米到76.2毫米 |
zui大样品厚度 | 5毫米 |
总体尺寸 | 宽度：120毫米 高度：100毫米 深度：300毫米 |
支持的操作系统 | Windows Vista,7,8和10（64位） |
zui小显示器分辨率 | 1440 x 900 |
建议的监视器分辨 | 1920 x 1080 |
所需的硬盘空间 | 400 MB |
